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Semiconductor quality

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Semiconductor quality

放射線検査

半導体; 半導体の品質

放射線耐性を決定するデバイスのテスト。

放射線感受性

半導体; 半導体の品質

放射線への暴露の結果として低下するデバイスに固有傾向。MOS デバイスは通常バイポーラ ・ デバイスよりも放射線損傷の影響を受けやすいです。

X線撮影

半導体; 半導体の品質

X 線を参照してください。

ラド(Si)

半導体; 半導体の品質

任意のタイプの 100 エルグ シリコンの 1 グラムあたりエネルギーの電離放射線の量。

RAM(ランダムアクセスメモリ)

半導体; 半導体の品質

A storage device in which the ability to access a randomly selected bit of stored data is independent of either the timing of the most recent access of that bit or the location of the most recently ...

スパッタリング

半導体; 半導体の品質

近くの表面で沈殿するために分子イオン衝突による固体ソースからの解放によって薄膜を作り出す方法。

オングストローム(A)

半導体; 半導体の品質

長さの単位。104Å = 1 ミクロンまたは 1010Å = 1 メートル (メートル)。

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