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Semiconductor quality
スキャン電子顕微鏡検査(SEM)
半導体; 半導体の品質
いくつかの大きさを光学顕微鏡で達成できるよりも高い倍率をできる検査。走査型電子顕微鏡は通常 250 A またはより良いと 20000 倍以上の倍率の解像度に対応します。 ...
側は、ディップろう付け
半導体; 半導体の品質
フィードスルー パッケージ側面につながるとデュアル インライン パッケージをろう。リードは他のデュアル インライン パッケージに角度ではなくまっすぐ、通常来る。モールド パッケージのバージョンはありません。 ...