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Semiconductor quality
粒子衝撃音の検出(PIND)
半導体; 半導体の品質
テーブル上のデバイス、デバイス ・ キャビティ内の緩い粒子を検出するための音響センサーを持つ振動によって実行されるテスト。その他非音響の粒子検出テストは、他のドキュメントで指定されます。 ...
テーブル上のデバイス、デバイス ・ キャビティ内の緩い粒子を検出するための音響センサーを持つ振動によって実行されるテスト。その他非音響の粒子検出テストは、他のドキュメントで指定されます。 ...