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Semiconductor quality

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微小クラック
半導体; 半導体の品質

金属または他の材料、半導体デバイス、通常不検出に光学倍率を使用しての内で非常に小さな亀裂。メタライゼーション領域でマイクロク ラックは、最も一般的コンタクトの段差で発生します。マイクロク ラックは、回路の不連続性につながることができます。 ...

ミクロン（μ）
半導体; 半導体の品質

長さの単位。106µ = 1 メートル （メートル）。[メモ: 長さのシンボルとして µ µ µ A (アンペア) または µ V ローパワー) などの単位を示すために、プレフィックスとして使用されると混同しないでください。ミクロンは 1 μ m ...

移行
半導体; 半導体の品質

移転やにや隣接する他の材料の間で物理的な材料の動き。（エレクトロマイグレーションを参照）。

許容品質レベル（AQL）
半導体; 半導体の品質

最大不良率上映すべてのロットの平均として受け入れられると考えられます。与えられた AQL で使われるサンプル サイズ不良率がより高い全ロットの 95% の受け入れを防止します。 ...

超大規模集積回路（ULSI）
半導体; 半導体の品質

10,000 ゲートを越える複雑さを持つデバイスに適用される用語です。

中央処理
半導体; 半導体の品質

デジタル データ システムでは、マルチプロセッサやマルチ プログラミング ・ モードで通常大型のシングル プロセッサを活用したシステムすべてを実行するシステムの計算に必要な。 ...

バースト放射線
半導体; 半導体の品質

多量の急速な線量率放射線 [108 rads （Si） を超える通常/秒] デバイスのラッチアップの結果、データの動揺、閾値シフトやその他のパフォーマンスの低下。バースト放射は通常核兵器爆発と関連付けられるです。 ...

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