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Semiconductor quality

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リード疲労

半導体; 半導体の品質

繰返し曲げ力のサンプル デバイスのリードへの応用をリードし、パッケージの構造の整合性を保証するために。

高温動作試験(HTOT)

半導体; 半導体の品質

燃焼では、多くの非常に加速された条件の下でサンプルごとにデバイスの長期信頼性を決定するため非常に高い温度 (通常 250 ℃) で実行されます。 ...

ハイブリッドマイクロ回路

半導体; 半導体の品質

マイクロ サーキットの厚肉または薄肉フィルムと基板上の半導体チップ (集積回路やディスクリート) で構成。

実装日

半導体; 半導体の品質

日付は新しい軍事文書または既存のドキュメントの新しい改訂する必要があります実装されるその要件に該当する者。この日付よりも異なるとエフェクティビティの日付より後があります。 ...

インゴット

半導体; 半導体の品質

そこから個々 のウェーハは、その後、スライスされる半導体材料の円筒部分。

インゴットの成長

半導体; 半導体の品質

半導体材料の塊を作成するプロセス。

検査

半導体; 半導体の品質

監視とは対照的の審査手順の実際のパフォーマンス。

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