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učestalost kvara
The calculated rate at which device failures will occur within a total device population (normally expressed in terms of percent per thousand hours or devices per 106 unit hours).
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- 品詞: 名詞
- 同義語
- ブロッサリ
- 産業/ドメイン 半導体
- カテゴリ 半導体の品質
- Company: National Semiconductor
- 製品
- 頭文字-略称:
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