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sonda
Electrical test of semiconductor devices at the wafer level, so named because a metal probe is used to make electrical contact with each of the device's bonding pads.
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- 品詞: 名詞
- 同義語
- ブロッサリ
- 産業/ドメイン 半導体
- カテゴリ 半導体の品質
- Company: National Semiconductor
- 製品
- 頭文字-略称:
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