- 産業: Semiconductors
- Number of terms: 2987
- Number of blossaries: 0
- Company Profile:
National Semiconductor Corporation designs, develops, manufactures, and markets analog and mixed-signal integrated circuits and sub-systems.
Procesul de încapsulare sau "ghiveci", un dispozitiv de modelat.
Industry:Semiconductors
Aceste teste efectuate în asamblare după operaţia de etanşare în scopul de a confirma calitatea a ansamblului dispozitivului. Testarea va include în mod normal, ecrane, cum ar fi stabilizarea se coace, acceleraţie constantă, ciclul de temperatură, şi de testare hermeticity.
Industry:Semiconductors
Un strat monocristalin de material depus pe un substrat, astfel încât stratul se formează are aceeaşi orientare de cristal ca material de substrat. (Adesea denumite în continuare "epi".)
Industry:Semiconductors
Un dispozitiv de memorie al căror conţinut poate fi stabilit printr-un proces de programare (de obicei, injecţie de electroni la cald) şi poate fi complet şterse prin expunerea la lumina ultravioleta pentru perioade sustinuta (de obicei 30 de minute). Atunci când în mod corespunzător şterse, dispozitivul poate fi reprogramat.
Industry:Semiconductors
Un aliaj de două sau mai multe metale, cu cel mai scazut punct de topire, care este posibil din orice combinaţie a acestor metale. Punctul de topire al eutectica va fi în mod normal, mai mică decât punctul de topire de metale, fie în stare pură.
Industry:Semiconductors
Unul dintre pasii finali în procesul de prelucrare a unei plachete, în cursul căreia din metal conductor, de obicei aluminiu, este depus pe suprafaţa de plachete, în scopul de a asigura interconectarea electrică a diferitelor elemente active pe fiecare zar. Metalizare poate fi, de asemenea, realizată prin pulverizare.
Industry:Semiconductors
O examinare post-mortem de dispozitive nu a reuşit, în scopul verificării eşec raportate şi identificarea modul sau mecanismul de eşec. Tehnici de analiză Nerespectarea pot varia de la simpla examinare electrice şi / sau vizual la unele dintre cele mai avansate tehnici de fizica, metalurgie, chimie şi.
Industry:Semiconductors
Rata calculată la care eşecurile dispozitiv va avea loc în termen de o populaţie totală dispozitiv (în mod normal, exprimat în termeni de procente pe mii de ore sau dispozitive pe oră unitate de 106).
Industry:Semiconductors
O caracteristică (în mod normal asociate cu built-in de testare), care permite identificarea unei subcircuit funcţionare defectuoasă sau a circuitelor intr-un dispozitiv complex.
Industry:Semiconductors
Cea mai mică dimensiune controlabile pe suprafaţa unei mor, de obicei determinată de lăţimea liniei minime.
Industry:Semiconductors
