fecha de efectividad

Un examen post-mortem de los dispositivos no con el propósito de verificar la información según la identificación y el modo o mecanismo de fracaso. Técnicas de análisis de fallas ...

función de fuerza

半導体; 半導体の品質

El voltaje aplicado (s) o corriente (s) en la que una prueba no paramétrica o funcional se lleva a cabo.

electromigración

半導体; 半導体の品質

Migración de partículas en una película delgada de aluminio o conductores de polisilicio en los límites de grano como resultado de densidades de alta corriente. electromigración ...

sensibilidad electrostática

半導体; 半導体の品質

susceptibilidad de daño o degradación como resultado de la sujeción a discarga electrostática. Típicamente es mucho mayor en dispositivos MOS que en bipolares.

descarga electrostática

半導体; 半導体の品質

La descarga de carga estática acumulada (típicamente de alto voltaje a corriente baja) desde un colector a otro, por lo general brincándose la separación de aire entre los ...

elemento

半導体; 半導体の品質

Una parte topográficamente distinguible de un circuito que contribuye directamente en sus características eléctricas.

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